超聲檢測

A型 /B型便攜相控陣試塊 具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和官孔以模擬缺陷，可用來校準(zhǔn)相控陣超聲探傷儀扇掃成像橫向（縱向）分辨力、短缺陷分辨力、扇掃角度分辨力等。

便攜相控陣試塊具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和官孔以模擬缺陷，可用來校準(zhǔn)相控陣超聲探傷儀扇掃成像橫向（縱向）分辨力、短缺陷分辨力、扇掃角度分辨力等。按照不同功能分 為A型便攜式相控陣試塊和B型便攜式相控陣試塊，具體結(jié)構(gòu)及參數(shù)如下。

A型便攜式相控陣試塊

A型便攜式相控陣試塊是相控陣超聲檢測中用于校驗設(shè)備性能的重要工具。以下是其相關(guān)介紹：

• 作用

• 校準(zhǔn)設(shè)備：用于校準(zhǔn)相控陣超聲檢測設(shè)備，確保設(shè)備的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性和可靠性。通過與試塊的標(biāo)準(zhǔn)缺陷進(jìn)行對比，可判斷設(shè)備是否能準(zhǔn)確識別缺陷。

• 評估性能：能對相控陣超聲檢測設(shè)備的各項性能指標(biāo)，如檢測靈敏度、分辨率、信噪比等進(jìn)行評估，為設(shè)備的調(diào)試和優(yōu)化提供依據(jù)。

• 培訓(xùn)人員：幫助檢測人員熟悉相控陣超聲檢測的操作流程和數(shù)據(jù)判讀方法，提高檢測人員的技能水平。

• 使用方法

• 準(zhǔn)備工作：確認(rèn)相控陣超聲檢測設(shè)備正常運行，性能滿足檢測要求。準(zhǔn)備好A型試塊，保證試塊表面清潔、無劃痕、無磨損。根據(jù)設(shè)備說明書和檢測標(biāo)準(zhǔn)，選擇合適的探頭和檢測參數(shù)。

• 操作過程：將A型試塊放置在穩(wěn)定平臺上，使探頭中心線與試塊表面基準(zhǔn)線對齊。啟動相控陣超聲檢測設(shè)備，按預(yù)設(shè)檢測參數(shù)進(jìn)行掃描，觀察并記錄檢測結(jié)果，包括缺陷位置、大小和形狀，至少重復(fù)3次。

• 結(jié)果分析：對比檢測結(jié)果與A型試塊的標(biāo)準(zhǔn)缺陷位置，判斷設(shè)備能否準(zhǔn)確識別缺陷。分析檢測結(jié)果的一致性，評估設(shè)備的穩(wěn)定性，根據(jù)結(jié)果調(diào)整檢測參數(shù)，優(yōu)化檢測效果。

• 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：通常需符合相關(guān)的國際、國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如ASTM E2491-08等標(biāo)準(zhǔn)，以確保試塊的尺寸、形狀、材料以及內(nèi)部缺陷的設(shè)置等符合規(guī)范，保證檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。

B型便攜式相控陣試塊

超聲相控陣B型試塊是一種具有特定結(jié)構(gòu)和缺陷的試塊，用于超聲相控陣檢測系統(tǒng)中，以模擬實際工件中的缺陷情況，從而校準(zhǔn)檢測設(shè)備的性能、驗證檢測工藝的有效性，并評估檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

功能作用

主要用于測試成像橫向和縱向幾何尺寸測量誤差、扇掃角度范圍誤差和扇掃角度分辨力。

類型

根據(jù)用途和標(biāo)準(zhǔn)不同，可分為校準(zhǔn)試塊、對比試塊和模擬試塊等。具體如下：

• 校準(zhǔn)試塊：通常具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和盲孔，用于校準(zhǔn)超聲相控陣檢測設(shè)備的聲速、楔塊延時、ACG、TCG等參數(shù)。

• 對比試塊（參考試塊）：具有與待檢測工件相似的結(jié)構(gòu)和材料特性，并包含一系列已知的缺陷，用于與待檢測工件進(jìn)行對比，評估檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

• 模擬試塊（演示試塊）：用于模擬實際檢測過程中的復(fù)雜情況，如焊縫坡口成像、焊接自然缺欠等，以驗證檢測工藝的有效性和評估檢測人員的技能水平。

結(jié)構(gòu)特點

一般來說，B型試塊上有不同區(qū)域，如B-1區(qū)、B-2區(qū)、B-3區(qū)等，每個區(qū)域有不同的結(jié)構(gòu)設(shè)計，例如B-1區(qū)有一系列通孔用于測量成像橫向幾何尺寸測量誤差等。

應(yīng)用領(lǐng)域

在無損檢測領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，特別是在核工業(yè)、航空工業(yè)等對檢測精度和可靠性要求較高的領(lǐng)域。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

通常遵循國際或國內(nèi)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，如ISO2400、ISO19675、GB/T32563以及ASME、ASTM E2491-08等標(biāo)準(zhǔn)。

使用方法

• 成像橫向幾何尺寸測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔的左端面及B-2區(qū)一系列通孔的下端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)線性掃查或扇形掃查得到清晰圖像，測量不同孔圖像之間的橫向距離測量值，計算與標(biāo)稱值的差值。

• 成像縱向幾何尺寸測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔下端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)線性掃查或扇形掃查得到清晰圖像，測量不同孔圖像之間的縱向距離測量值，計算與標(biāo)稱值的差值。

• 扇掃角度范圍測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列通孔的上端面，設(shè)定不同的扇形掃查角度范圍，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)扇形掃查得到清晰的圖像，數(shù)出缺陷圖像的數(shù)目并計算實際掃查角度。

• 扇掃角度分辨力：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列的上端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)扇形掃查，圖像中所能分開的最小角度間距即為該工作狀態(tài)下的扇掃角度分辨力。